Title :

Interferometric scanning microwave microscope for nanotechnology application

Author(s) :

Clement, N. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dargent, Thomas [Auteur]
Tanbakuchi, H. [Auteur]
Nishiguchi, K. [Auteur]
Sivakumarasamy, R. [Auteur]
Wang, F. [Auteur]
Fujiwara, A. [Auteur]
Ducatteau, D. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Legrand, Bernard [Auteur]
Théron, Didier [Auteur]

Conference title :

American Physical Society March Meeting, APS March Meeting 2013

City :

Baltimore, MD

Country :

Etats-Unis d'Amérique

Start date of the conference :

2013

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL