Title :

[Invited] High frequency characterization of nanotechnologies : toward new instrumentations and techniques

Author(s) :

Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Haddadi, Kamel [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Lasri, Tuami [Auteur]
Tagro, Y. [Auteur]
Poulain, L. [Auteur]
Pottrain, A. [Auteur]

Conference title :

36th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2012

City :

Porquerolles

Country :

France

Start date of the conference :

2012

Book title :

Proceedings of 36th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2012

Publication date :

2012

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL