Assessment of III-V MOSFET architectures ...

Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
DOI :
10.1109/SOI.2011.6081701
Titre :
Assessment of III-V MOSFET architectures for low power applications using static and dynamic numerical simulation
Auteur(s) :
Shi, Minghua [Auteur]
Saint-Martin, J. [Auteur]
Bournel, A. [Auteur]
Querlioz, D. [Auteur]
Dollfus, P. [Auteur]
Mo, J.J. [Auteur]
Wichmann, Nicolas [Auteur] refId
Desplanque, Ludovic [Auteur] refId
Wallart, Xavier [Auteur] refId
Danneville, François [Auteur] refId
Bollaert, Sylvain [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
37th IEEE International SOI Conference, SOI 2011
Ville :
Tempe, AZ
Pays :
Etats-Unis d'Amérique
Date de début de la manifestation scientifique :
2011
Titre de l’ouvrage :
Proceedings of 37th IEEE International SOI Conference, SOI 2011
Date de publication :
2011
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
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