Characterization of the self-heating of ...

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
DOI :
10.1016/j.microrel.2011.07.022
Permalink :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/48319
Title :
Characterization of the self-heating of AlGaN/GaN HEMTs during an electrical stress by using Raman spectroscopy
Author(s) :
Berthet, F. [Auteur]
Guhel, Y. [Auteur]
Gualous, H. [Auteur]
Boudart, B. [Auteur]
Trolet, J.L. [Auteur]
Piccione, M. [Auteur]
Gaquiere, C. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2011
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL
Submission date :
2021-07-27T15:59:56Z