Titre :

Characterization of the self-heating of AlGaN/GaN HEMTs during an electrical stress by using Raman spectroscopy

Auteur(s) :

Berthet, F. [Auteur]
Guhel, Y. [Auteur]
Gualous, H. [Auteur]
Boudart, B. [Auteur]
Trolet, J.L. [Auteur]
Piccione, M. [Auteur]
Gaquiere, C. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Éditeur :

Elsevier

Date de publication :

2011

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL

Date de dépôt :

2021-07-27T15:59:56Z