Microwave evaluation of Pb(0.4)Sr(0.6)TiO(3) ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Titre :
Microwave evaluation of Pb(0.4)Sr(0.6)TiO(3) thin films prepared by magnetron sputtering on silicon : performance comparison with Ba(0.3)Sr(0.7)TiO(3) thin films
Auteur(s) :
Ponchel, Freddy [Auteur]
Lei, X. [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Wang, Gang [Auteur]
Dong, X. [Auteur]

Lei, X. [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Wang, Gang [Auteur]
Dong, X. [Auteur]
Titre de la revue :
Applied Physics Letters
Pagination :
172905-1-3
Éditeur :
American Institute of Physics
Date de publication :
2011
ISSN :
0003-6951
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :
Fichiers
- https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00783535/document
- Accès libre
- Accéder au document
- https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00783535/document
- Accès libre
- Accéder au document
- document
- Accès libre
- Accéder au document
- Ponchel_2011_1.3656065.pdf
- Accès libre
- Accéder au document