Title :

Electromagnetic modeling of SPP resonance for low noise RF magnitude modulation of optical carriers

Author(s) :

Tripon-Canseliet, Charlotte [Auteur]
Laboratoire d'Electronique et Electromagnétisme [L2E]
Faci, Salim [Auteur]
Laboratoire d'Electronique et Electromagnétisme [L2E]
Stolz, Arnaud [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dogheche, El Hadj [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Decoster, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Loiseau, Brigitte [Auteur]
THALES Airborne Systems [Elancourt]
Delboulbe, Anne [Auteur]
THALES Airborne Systems [Elancourt]
Huignard, Jean-Pierre [Auteur]
THALES Airborne Systems [Elancourt]
Chazelas, Jean [Auteur]
THALES Airborne Systems [Elancourt]

Conference title :

Conference Microwave Photonics (MWP) 2010

City :

Montréal (Quebec)

Country :

Canada

Start date of the conference :

2010-10-05

Publisher :

_

Publication date :

2010-12-10

English keyword(s) :

Modulation
Optical films
Optical reflection
Optical surface waves
Reflectivity
Refractive index

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]/Electromagnétisme

English abstract : [en]

In this paper, light modulation efficiency using surface plasmon polariton (SPP) excitation in metal/electro-optic material interface is investigated by electromagnetic simulations. The propagation constant of the plasmon ...
Show more >In this paper, light modulation efficiency using surface plasmon polariton (SPP) excitation in metal/electro-optic material interface is investigated by electromagnetic simulations. The propagation constant of the plasmon wave are controlled by an electric field applied across the electro-optic layer and thus modulates in magnitude the reflected light.Show less >

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL