Scanning confocal Raman spectroscopy of ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Scanning confocal Raman spectroscopy of individual silicon nanowires
Author(s) :
Strelchuk, V.V. [Auteur]
Nikolenko, A.S. [Auteur]
Lytvyn, P.M. [Auteur]
Klimovskaya, A.I. [Auteur]
Pedchenko, Y.N. [Auteur]
Voroschenko, A.T. [Auteur]
Hourlier, Djamila [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nikolenko, A.S. [Auteur]
Lytvyn, P.M. [Auteur]
Klimovskaya, A.I. [Auteur]
Pedchenko, Y.N. [Auteur]
Voroschenko, A.T. [Auteur]
Hourlier, Djamila [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
European Materials Research Society Spring Meeting, E-MRS Spring 2010, Symposium J : Silicon-based nanophotonics
City :
Strasbourg
Country :
France
Start date of the conference :
2010
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :