High frequency noise sources extraction ...

Type de document :
Partie d'ouvrage
Titre :
High frequency noise sources extraction in nanometric MOSFETs
Auteur(s) :
Danneville, François [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pailloncy, G. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur] refId
Éditeur(s) ou directeur(s) scientifique(s) :
Sikula J., Levinshtein M.
Titre de l’ouvrage :
Advanced experimental methods for noise research in nanoscale electronic devices
Éditeur :
Kluwer Academic Publisher
Date de publication :
2004
Langue :
Anglais
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Commentaire :
ISBN 1-4020-2169-0
Collections :
Source :
Harvested from HAL