Caractérisation de défauts atomiques uniques ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Caractérisation de défauts atomiques uniques dans un semiconducteur
Author(s) :
Grandidier, Bruno [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
Journées Nanomicrotechnologies : Surfaces et nanostructures - Analyses, mesures et modélisations
City :
Paris
Country :
France
Start date of the conference :
2009
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :