Atomic scale structure of Si nanowire

Document type :

Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes

Title :

Author(s) :

Xu, T. [Auteur]
Nys, J.P. [Auteur]
Berthe, Maxime [Auteur]

Stiévenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Conference title :

International Conference on Nanoscience and Technology, ChinaNANO 2009

City :

Beijing

Country :

Chine

Start date of the conference :

2009

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

Source :

Atomic scale structure of Si nanowire BibTeX CSV Excel RIS