Imaging electron transport by scanning ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Imaging electron transport by scanning gate microscopy
Author(s) :
Liu, P. [Auteur]
Sellier, H. [Auteur]
Nano-Electronique Quantique et Spectroscopie [NEEL - QuNES]
Huant, S. [Auteur]
Nano-Optique et Forces [NEEL - NOF]
Wallart, Xavier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Desplanque, Ludovic [Auteur]
Hackens, B. [Auteur]
Martins, F. [Auteur]
Bayot, V. [Auteur]
Sellier, H. [Auteur]
Nano-Electronique Quantique et Spectroscopie [NEEL - QuNES]
Huant, S. [Auteur]
Nano-Optique et Forces [NEEL - NOF]
Wallart, Xavier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Desplanque, Ludovic [Auteur]
Hackens, B. [Auteur]
Martins, F. [Auteur]
Bayot, V. [Auteur]
Conference title :
Forum des Microscopies à Sonde Locale
City :
Mittelwihr
Country :
France
Start date of the conference :
2010
HAL domain(s) :
Physique [physics]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :