Characterization of ytterbium silicide ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Characterization of ytterbium silicide formed in ultra high vacuum
Auteur(s) :
Laszcz, A. [Auteur]
Ratajczak, J. [Auteur]
Czerwinski, A. [Auteur]
Katcki, J. [Auteur]
Srot, V. [Auteur]
Phillipp, F. [Auteur]
van Aken, P.A. [Auteur]
Yarekha, Dmitri [Auteur]
Reckinger, N. [Auteur]
Larrieu, G. [Auteur]
DUBOIS, Emmanuel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ratajczak, J. [Auteur]
Czerwinski, A. [Auteur]
Katcki, J. [Auteur]
Srot, V. [Auteur]
Phillipp, F. [Auteur]
van Aken, P.A. [Auteur]
Yarekha, Dmitri [Auteur]
Reckinger, N. [Auteur]
Larrieu, G. [Auteur]
DUBOIS, Emmanuel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Journal of Physics: Conference Series
Pagination :
012056-1-4
Éditeur :
IOP Science
Date de publication :
2010
ISSN :
1742-6596
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :
Fichiers
- https://doi.org/10.1088/1742-6596/209/1/012056
- Accès libre
- Accéder au document
- https://doi.org/10.1088/1742-6596/209/1/012056
- Accès libre
- Accéder au document
- https://doi.org/10.1088/1742-6596/209/1/012056
- Accès libre
- Accéder au document
- https://doi.org/10.1088/1742-6596/209/1/012056
- Accès libre
- Accéder au document
- https://doi.org/10.1088/1742-6596/209/1/012056
- Accès libre
- Accéder au document