Dielectric microwave characterizations of ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Title :
Dielectric microwave characterizations of (Ba,Sr)TiO3 film deposited on high resistivity silicon substrate : analysis by two-dimensional tangential finite element method
Author(s) :
Ponchel, Freddy [Auteur]
Midy, J. [Auteur]
Legier, Jean-François [Auteur]
Soyer, Caroline [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]
Gueguan, G. [Auteur]
Midy, J. [Auteur]
Legier, Jean-François [Auteur]
Soyer, Caroline [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]
Gueguan, G. [Auteur]
Journal title :
Journal of Applied Physics
Pages :
054112-1-5
Publisher :
American Institute of Physics
Publication date :
2010
ISSN :
0021-8979
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :
Files
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