Thermal noise in MOSFETs : a two- or a ...

Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
10.1109/TED.2010.2044286
Titre :
Thermal noise in MOSFETs : a two- or a three-parameter noise model ?
Auteur(s) :
Emam, M. [Auteur]
Sakalas, P. [Auteur]
Vanhoenacker-Janvier, D. [Auteur]
Raskin, J.P. [Auteur]
Lim, T.C. [Auteur]
Danneville, François [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
IEEE Transactions on Electron Devices
Pagination :
1188-1191
Éditeur :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Date de publication :
2010
ISSN :
0018-9383
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
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