Six-port based near-field millimeter-wave ...

Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Six-port based near-field millimeter-wave microscope using a slit scanning probe
Auteur(s) :
Wang, M.M. [Auteur]
Haddadi, Kamel [Auteur] refId
Benzaim, O. [Auteur]
Glay, David [Auteur] refId
Lasri, Tuami [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
4th International Conference on Electromagnetic Near-Field Characterization and Imaging, ICONIC 2009
Pays :
Taïwan
Date de début de la manifestation scientifique :
2009
Titre de l’ouvrage :
Proceedings of the 4th International Conference on Electromagnetic Near-Field Characterization and Imaging, ICONIC 2009
Éditeur :
_
Date de publication :
2009
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL