Improved characterization methology for ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Improved characterization methology for MOSFETs up to 220 GHz
Author(s) :
Waldhoff, N. [Auteur]
Andrei, C. [Auteur]
Gloria, D. [Auteur]
lepilliet, sl [Auteur]
Danneville, François [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Andrei, C. [Auteur]
Gloria, D. [Auteur]
lepilliet, sl [Auteur]
Danneville, François [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
Pages :
1237-1243
Publisher :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Publication date :
2009
ISSN :
0018-9480
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :