Improved characterization methology for ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Improved characterization methology for MOSFETs up to 220 GHz
Auteur(s) :
Waldhoff, N. [Auteur]
Andrei, C. [Auteur]
Gloria, D. [Auteur]
lepilliet, sl [Auteur]
Danneville, François [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Andrei, C. [Auteur]
Gloria, D. [Auteur]
lepilliet, sl [Auteur]
Danneville, François [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
Pagination :
1237-1243
Éditeur :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Date de publication :
2009
ISSN :
0018-9480
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :