RF doubling and rectification in Three-Terminal ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
RF doubling and rectification in Three-Terminal Junctions: experimental characterization and Monte Carlo analysis
Author(s) :
Iñiguez-De-La-Torre, I. [Auteur]
González, T. [Auteur]
Pardo, D. [Auteur]
Gardes, Chantal [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Roelens, Yannick [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bollaert, Sylvain [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Curutchet, A. [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Mateos, J. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
González, T. [Auteur]
Pardo, D. [Auteur]
Gardes, Chantal [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Roelens, Yannick [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bollaert, Sylvain [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Curutchet, A. [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Mateos, J. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
EDISON 16
Country :
France
Start date of the conference :
2009-08-24
Book title :
Journal of Physics : Conference series (JPCS)
Publication date :
2009
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Source :