RF doubling and rectification in Three-Terminal ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
RF doubling and rectification in Three-Terminal Junctions: experimental characterization and Monte Carlo analysis
Auteur(s) :
Iñiguez-De-La-Torre, I. [Auteur]
González, T. [Auteur]
Pardo, D. [Auteur]
Gardes, Chantal [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Roelens, Yannick [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bollaert, Sylvain [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Curutchet, A. [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Mateos, J. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
González, T. [Auteur]
Pardo, D. [Auteur]
Gardes, Chantal [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Roelens, Yannick [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bollaert, Sylvain [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Curutchet, A. [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Mateos, J. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
EDISON 16
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2009-08-24
Titre de l’ouvrage :
Journal of Physics : Conference series (JPCS)
Date de publication :
2009
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Source :