Towards thin film complete characterization ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
DOI :
Titre :
Towards thin film complete characterization using picosecond ultrasonics
Auteur(s) :
Mante, P.A. [Auteur]
Devos, Arnaud [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Robillard, Jean-François [Auteur]
Devos, Arnaud [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Robillard, Jean-François [Auteur]
Titre de la manifestation scientifique :
IEEE International Ultrasonics Symposium, 2008 IEEE IUS
Pays :
Chine
Date de début de la manifestation scientifique :
2008
Titre de l’ouvrage :
Proceedings of the 2008 IEEE International Ultrasonics Symposium, 2008 IEEE IUS
Éditeur :
_
Date de publication :
2008
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :