Layered materiel characterization using V(z) inversion technique

Type de document :

Communication dans un congrès avec actes

DOI :

Titre :

Auteur(s) :

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vandevoorde, L. [Auteur]
Bourse, G. [Auteur]

Titre de la manifestation scientifique :

International Congress on Ultrasonics, ICU 2007

Pays :

Autriche

Date de début de la manifestation scientifique :

2007

Titre de l’ouvrage :

Proceedings of the 2007 International Congress on Ultrasonics, ICU 2007

Éditeur :

Vienna University of Technology, Vienna, Austria

Date de publication :

2007

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

Source :

Layered materiel characterization using ... BibTeX CSV Excel RIS