Measurement (1/f noise, RTS) in molecular junction
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Measurement (1/f noise, RTS) in molecular junction
Author(s) :
Clément, N. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pleutin, S. [Auteur]
Seitz, O. [Auteur]
Guérin, David [Auteur]
Lenfant, Stephane [Auteur]
Cahen, D. [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pleutin, S. [Auteur]
Seitz, O. [Auteur]
Guérin, David [Auteur]
Lenfant, Stephane [Auteur]
Cahen, D. [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Conference title :
Indo-French Workshop on Multifunctional Molecular and Hybride Devices
City :
Saclay
Country :
France
Start date of the conference :
2008
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :