Title :

Film thickness determination by laser ultrasonics

Author(s) :

Lemaire, M. [Auteur]
Jenot, Frederic [Auteur]
Ouaftouch, Mohammadi [Auteur]
Xu, Wei Jiang [Auteur]
Duquennoy, Marc [Auteur]
Ourak, Mohamed [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Cote, R. [Auteur]
Salenbien, R. [Auteur]
Sarens, B. [Auteur]
Lauriks, W. [Auteur]
Glorieux, C. [Auteur]

Conference title :

Second ASA-EAA Joint Conference, ACOUSTICS'08

Country :

France

Start date of the conference :

2008

Book title :

Proceedings of the Second ASA-EAA Joint Conference, ACOUSTICS'08

Publisher :

_

Publication date :

2008

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL