Comparative analysis for the local ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Comparative analysis for the local piezoelectric properties of ion beam and reactive ion beam etched Pb(Zr,Ti)O-3 thin films
Author(s) :
Blach-Legrand, Céline [Auteur]
Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181 [UCCS]
Saitzek, Sebastien [Auteur]
Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181 [UCCS]
Da Costa, Antonio [Auteur]
Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181 [UCCS]
Desfeux, Rachel [Auteur]
Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181 [UCCS]
Soyer, Caroline [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181 [UCCS]
Saitzek, Sebastien [Auteur]

Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181 [UCCS]
Da Costa, Antonio [Auteur]

Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181 [UCCS]
Desfeux, Rachel [Auteur]

Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181 [UCCS]
Soyer, Caroline [Auteur]

Remiens, Denis [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
Integrated Ferroelectrics
Pages :
230-240
Publisher :
Taylor & Francis
Publication date :
2008
ISSN :
1058-4587
HAL domain(s) :
Chimie/Matériaux
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :