Study of the hBN/InP interface by deep ...

Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
10.1016/j.tsf.2007.10.009
Title :
Study of the hBN/InP interface by deep level transient and photoluminescence spectroscopies
Author(s) :
Mattalah, M. [Auteur]
Telia, A. [Auteur]
Soltani, Ali [Auteur] refId
De Jaeger, Jean-Claude [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Thevenin, P. [Auteur]
Bath, A. [Auteur]
Akkal, B. [Auteur]
Abid, H. [Auteur]
Journal title :
Thin Solid Films
Pages :
4122-4127
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2008
ISSN :
0040-6090
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL
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