Resistivity and surface states density of ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Titre :
Resistivity and surface states density of n and p type silicon nanowires
Auteur(s) :
Vaurette, Francois [Auteur]
Nys, J.P. [Auteur]
Deresmes, D. [Auteur]
Grandidier, Bruno [Auteur]
Stiévenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nys, J.P. [Auteur]
Deresmes, D. [Auteur]
Grandidier, Bruno [Auteur]
Stiévenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Journal of Vacuum Science and Technology
Pagination :
945-948
Éditeur :
American Vacuum Society (AVS)
Date de publication :
2008
ISSN :
0022-5355
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :