Nonlinear Characterization and Modeling ...
Document type :
Article dans une revue scientifique: Article original
DOI :
Title :
Nonlinear Characterization and Modeling of Carbon Nanotube Field-Effect Transistors
Author(s) :
Curutchet, Arnaud [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Théron, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Werquin, Matthieu [Auteur]
DUCATTEAU, Damien [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Happy, Henri [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bethoux, Jean-Marc [Auteur]
SOITEC
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Derycke, Vincent [Auteur]
Laboratoire d'Electronique Moléculaire [LEM]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Théron, Didier [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Werquin, Matthieu [Auteur]
DUCATTEAU, Damien [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Happy, Henri [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dambrine, Gilles [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bethoux, Jean-Marc [Auteur]
SOITEC
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Derycke, Vincent [Auteur]
Laboratoire d'Electronique Moléculaire [LEM]
Gaquiere, Christophe [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
Pages :
1505-1510
Publisher :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Publication date :
2008-07-02
ISSN :
0018-9480
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique
English abstract : [en]
We report for the first time to our knowledge large-signal measurements performed at 600 MHz and in time domain on carbon nanotube field-effect transistors (CNFETs) using a large-signal network analyzer. To overcome the ...
Show more >We report for the first time to our knowledge large-signal measurements performed at 600 MHz and in time domain on carbon nanotube field-effect transistors (CNFETs) using a large-signal network analyzer. To overcome the very high mismatch between the high CNFET impedance and the basic 50-Omega configuration of the setup, the output impedance was matched with the help of an experimental active load-pull configuration. Hence, we were able to observe under large-signal conditions the nonlinear behavior of CNFETs. Static measurements and continuous-wave S ij -parameter measurements were made for many different biases. They were used in order to determine a nonlinear electrical model that has been validated thanks to the nonlinear measurements. The developed model opens the way for electrical CNFET circuit simulation and nonlinear applications of these devices.Show less >
Show more >We report for the first time to our knowledge large-signal measurements performed at 600 MHz and in time domain on carbon nanotube field-effect transistors (CNFETs) using a large-signal network analyzer. To overcome the very high mismatch between the high CNFET impedance and the basic 50-Omega configuration of the setup, the output impedance was matched with the help of an experimental active load-pull configuration. Hence, we were able to observe under large-signal conditions the nonlinear behavior of CNFETs. Static measurements and continuous-wave S ij -parameter measurements were made for many different biases. They were used in order to determine a nonlinear electrical model that has been validated thanks to the nonlinear measurements. The developed model opens the way for electrical CNFET circuit simulation and nonlinear applications of these devices.Show less >
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Source :