1/f tunnel current noise through Si-bound ...

Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
1/f tunnel current noise through Si-bound alkyl monolayers
Author(s) :
Clément, Nicolas [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pleutin, Stéphane [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Seitz, Oliver [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lenfant, Stephane [Auteur] refId
Cahen, D. [Auteur]
Vuillaume, Dominique [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
European Materials Research Society Spring Meeting
City :
Strasbourg
Country :
France
Start date of the conference :
2007-05-28
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL