Title :

Non invasive determination of temperature trajectories during a defrosting process using microwave radiometry

Author(s) :

Cresson, Pierre-Yves [Auteur]
Microtechnology and Instrumentation for Thermal and Electromagnetic Characterization - IEMN [MITEC - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dubois, Luc [Auteur]
Microtechnology and Instrumentation for Thermal and Electromagnetic Characterization - IEMN [MITEC - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pribetich, J. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Conference title :

IEEE MTT-S International Microwave Symposium

City :

Ville inconnue

Country :

Etats-Unis d'Amérique

Start date of the conference :

2007

Book title :

2007 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest

Publisher :

IEEE, Piscataway, NJ, USA

Publication date :

2007

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL