Evaluation of AllnN/GaN HEMTs on sapphire ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Title :
Evaluation of AllnN/GaN HEMTs on sapphire substrate in microwave, time and temperature domains
Author(s) :
Medjdoub, Farid [Auteur]
Ducatteau, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Carlin, J.E. [Auteur]
Gonschorek, M. [Auteur]
Feltin, E. [Auteur]
Py, M.A. [Auteur]
Grandjean, N. [Auteur]
Kohn, E. [Auteur]
Ducatteau, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Carlin, J.E. [Auteur]
Gonschorek, M. [Auteur]
Feltin, E. [Auteur]
Py, M.A. [Auteur]
Grandjean, N. [Auteur]
Kohn, E. [Auteur]
Journal title :
Electronics Letters
Pages :
309-311
Publisher :
IET
Publication date :
2007
ISSN :
0013-5194
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :