Low-temperature-grown GaAs : modeling of ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Titre :
Low-temperature-grown GaAs : modeling of transient reflectivity experiments
Auteur(s) :
Ortiz, V. [Auteur]
Thales Research and Technology [Palaiseau]
Nagle, J. [Auteur]
Thales Research and Technology [Palaiseau]
Lampin, Jean-Francois [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Peronne, Emmanuel [Auteur]
Laboratoire d'optique appliquée [LOA]
Laboratoire d'optique et biosciences [LOB]
Alexandrou, Antigoni [Auteur]
Laboratoire d'optique et biosciences [LOB]
Thales Research and Technology [Palaiseau]
Nagle, J. [Auteur]
Thales Research and Technology [Palaiseau]
Lampin, Jean-Francois [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Peronne, Emmanuel [Auteur]
Laboratoire d'optique appliquée [LOA]
Laboratoire d'optique et biosciences [LOB]
Alexandrou, Antigoni [Auteur]
Laboratoire d'optique et biosciences [LOB]
Titre de la revue :
Journal of Applied Physics
Pagination :
043515-1-9
Éditeur :
American Institute of Physics
Date de publication :
2007
ISSN :
0021-8979
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :
Fichiers
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