Caractérisation de nanofils de Si par sonde ...

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Caractérisation de nanofils de Si par sonde atomique tomographique
Author(s) :
Lardé, R. [Auteur]
Houard, J. [Auteur]
Cadel, E. [Auteur]
Pareige, P. [Auteur]
Hourlier, Djamila [Auteur] refId
Stievenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
10èmes Journées de la Matière Condensée
City :
Toulouse
Country :
France
Start date of the conference :
2006
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL