Titre :

A low complexity suboptimal MIMO receiver : the combined ZF-MLD algorithm

Auteur(s) :

Pammer, V. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Delignon, Yves [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Sawaya, Wadih [Auteur]
Ecole nationale supérieure Mines-Télécom Lille Douai [IMT Nord Europe]
Centre for Digital Systems [CERI SN - IMT Nord Europe]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Boulinguez, David [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

4th IEEE Proceedings on Personal, Indoor and Mobile Radio Communications, PIMRC 2003.

Ville :

Beijing

Pays :

Chine

Date de début de la manifestation scientifique :

2003-09-07

Éditeur :

IEEE, Piscataway, NJ, USA

Date de publication :

2003

Mot(s)-clé(s) en anglais :

MIMO
Fading
Statistical analysis
Bit error rate
Antenna arrays
Bluetooth
Transmitting antennas
Erbium
Additive white noise
Colored noise

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Résumé en anglais : [en]

Recently, wireless technologies have known an increasing success, thus becoming an interesting field for study. One of the topics of research are multiple antenna arrays. Signal recovery in that case is not obvious. Different ...
Lire la suite >Recently, wireless technologies have known an increasing success, thus becoming an interesting field for study. One of the topics of research are multiple antenna arrays. Signal recovery in that case is not obvious. Different methods with different performances have been suggested. From a statistical analysis of errors at the output of zero-forcing, we have constructed a method, which we present in this article, that combines zero-forcing and maximum likelihood. We will demonstrate that it provides both a low complexity and nearly optimal results regarding binary error rate (BER). Furthermore, we will show its relevancy compared to the VBLAST algorithm.Lire moins >

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL