Diagnosis of trapping phenomena in GaN MESFET's

Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Diagnosis of trapping phenomena in GaN MESFET's
Auteur(s) :
Meneghesso, G. [Auteur]
Chini, A. [Auteur]
Zanoni, E. [Auteur]
Manfredi, M. [Auteur]
Pavesi, M. [Auteur]
Boudart, B. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Date de début de la manifestation scientifique :
2000
Titre de l’ouvrage :
Proceedings of the 2000 International Electron Devices Meeting, IEDM 2000
Éditeur :
IEEE, Piscataway, NJ, USA
Date de publication :
2000
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL