Microscopic characterization of defects ...

Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Microscopic characterization of defects using scanning tunneling microscopy
Author(s) :
Stievenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
Materials Science and Engineering: B
Pages :
120-127
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2000
ISSN :
0921-5107
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL