Nondestructive detection of defects in ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Nondestructive detection of defects in materials using microwaves
Author(s) :
Glay, David [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]
Mamouni, A. [Auteur]
Leroy, Y. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]
Mamouni, A. [Auteur]
Leroy, Y. [Auteur]
Start date of the conference :
2000
Book title :
Proceedings of the SPIE - International Society for Optical Engineering, 4129
Publisher :
SPIE – The International Society for Optical Engineering, Bellingham, WA, USA
Publication date :
2000
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :