Issues in high frequency noise simulation ...

Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Issues in high frequency noise simulation for deep submicron MOSFET's
Auteur(s) :
Goo, J.S. [Auteur]
Choi, C.H. [Auteur]
Danneville, François [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Yu, Z. [Auteur]
Lee, T. [Auteur]
Dutton, R. [Auteur]
Date de début de la manifestation scientifique :
2000
Titre de l’ouvrage :
American Institute of Physics Conference Proceedings, 511
Éditeur :
American Institute of Physics
Date de publication :
2000
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL