Title :

Investigation of traps in AlGaN/GaN HEMTs by current transient spectroscopy

Author(s) :

Gassoumi, M. [Auteur]
Bluet, J.M. [Auteur]
Chekir, F. [Auteur]
Dermoul, I. [Auteur]
Maaref, H. [Auteur]
Guillot, G. [Auteur]
Minko, A. [Auteur]
Hoel, Virginie [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Journal title :

Materials Science and Engineering: C

Pages :

SI : 383-386

Publisher :

Elsevier

Publication date :

2006

ISSN :

0928-4931

Language :

Anglais

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL