Frequency-resolvel tunnel spectroscopy in ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Frequency-resolvel tunnel spectroscopy in nanocrystalline silicon superlattices
Auteur(s) :
Tsybeskov, Leonid [Auteur]
University of Rochester [USA]
Grom, G.F. [Auteur]
University of Rochester [USA]
Krishnan, Rahul G. [Auteur]
University of Rochester [USA]
Montès, Laurent [Auteur]
University of Rochester [USA]
Fauchet, P.M. [Auteur]
University of Rochester [USA]
Kovalev, D. [Auteur]
Technische Universität Munchen - Technical University Munich - Université Technique de Munich [TUM]
Diener, J. [Auteur]
Technische Universität Munchen - Technical University Munich - Université Technique de Munich [TUM]
Timoshenko, Victor [Auteur]
Technische Universität Munchen - Technical University Munich - Université Technique de Munich [TUM]
Koch, F. [Auteur]
Technische Universität Munchen - Technical University Munich - Université Technique de Munich [TUM]
Mccaffrey, John P. [Auteur]
Baribeau, Jean-Marc [Auteur]
Lockwood, David J. [Auteur]
Niquet, Yann-Michel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Delerue, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Allan, Guy [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
University of Rochester [USA]
Grom, G.F. [Auteur]
University of Rochester [USA]
Krishnan, Rahul G. [Auteur]
University of Rochester [USA]
Montès, Laurent [Auteur]
University of Rochester [USA]
Fauchet, P.M. [Auteur]
University of Rochester [USA]
Kovalev, D. [Auteur]
Technische Universität Munchen - Technical University Munich - Université Technique de Munich [TUM]
Diener, J. [Auteur]
Technische Universität Munchen - Technical University Munich - Université Technique de Munich [TUM]
Timoshenko, Victor [Auteur]
Technische Universität Munchen - Technical University Munich - Université Technique de Munich [TUM]
Koch, F. [Auteur]
Technische Universität Munchen - Technical University Munich - Université Technique de Munich [TUM]
Mccaffrey, John P. [Auteur]
Baribeau, Jean-Marc [Auteur]
Lockwood, David J. [Auteur]
Niquet, Yann-Michel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Delerue, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Allan, Guy [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
EPL - Europhysics Letters
Pagination :
552-558
Éditeur :
European Physical Society/EDP Sciences/Società Italiana di Fisica/IOP Publishing
Date de publication :
2001
ISSN :
0295-5075
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :