Interférométrie en milieu confiné : ...
Type de document :
Partie d'ouvrage
Titre :
Interférométrie en milieu confiné : application à la localisation
Auteur(s) :
Cousin, J.C. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Date de publication :
2001
Langue :
Français
Audience :
Non spécifiée
Source :