Ineslastic electron tunnelling spectroscopy ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Ineslastic electron tunnelling spectroscopy : capabilities and limitations in metal-oxide-semiconductor devices
Auteur(s) :
Salace, G. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Petit, C. [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Petit, C. [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Titre de la revue :
Journal of Applied Physics
Pagination :
5896-5901
Éditeur :
American Institute of Physics
Date de publication :
2002
ISSN :
0021-8979
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :
Fichiers
- https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00148712/document
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