Characterization of surface cracks in ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Characterization of surface cracks in metals by microwave techniques
Auteur(s) :
Glay, David [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]
Date de début de la manifestation scientifique :
2002
Titre de l’ouvrage :
Proceedings of the 11th International Symposium on Nondestructive Characterization of Materials
Éditeur :
Springer-Verlag
Date de publication :
2002
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :