Title :

Evolutions de caractéristiques statiques de HEMTs AlGaN/GaN soumis à un stress électrique réalisé à différentes températures

Author(s) :

Boudart, B. [Auteur]
Llibre, Jean-François [Auteur]
Briand, D. [Auteur]
Tala-Ighil, B. [Auteur]
Toutah, H. [Auteur]
Guhel, Y. [Auteur]
De Jaeger, Jean-Claude [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bougrioua, Zahia [Auteur]
Germain, Marie [Auteur]
Moerman, I. [Auteur]

Start date of the conference :

2003

Book title :

Actes des 13èmes Journées Nationales Microondes, JNM 2003

Publisher :

Institut d'Electronique, Microélectronique et Nanotechnologie, Villeneuve d'Ascq, France

Publication date :

2003

Language :

Français

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL