Title :

Scanning tunnelling spectroscopy of low dimensional semiconductor system

Author(s) :

Grandidier, Bruno [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Conference title :

7th International Workshop on Beam Induced Assessment of Microstructures in Semiconductors, BIAMS 2003

City :

Lille

Country :

France

Start date of the conference :

2003

Publication date :

2003

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL