Titre :

Electric force microscopy of individually charged semiconductor nanoparticles on conductive substrates : quantitative charge measurements and dipole-dipole interactions

Auteur(s) :

Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Diesinger, Heinrich [Auteur]
Deresmes, D. [Auteur]
Stiévenard, D. [Auteur]

Titre de la manifestation scientifique :

12th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy, Spectroscopy and Related Techniques, STM'03

Ville :

Eindhoven

Pays :

Pays-Bas

Date de début de la manifestation scientifique :

2003

Date de publication :

2003

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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