Characterization of MIS tunnel junctions by IETS
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Characterization of MIS tunnel junctions by IETS
Author(s) :
Salace, G. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Petit, C. [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Petit, C. [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Conference title :
203rd Meeting of the Electrochemical Society
City :
Paris
Country :
France
Start date of the conference :
2003
Publication date :
2003
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :