Titre :

High frequency noise sources extraction in nanometrique MOSFETs

Auteur(s) :

Danneville, François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pailloncy, G. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]

Titre de la manifestation scientifique :

NATO Advanced Research Workshop, Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices

Ville :

Brno

Pays :

République tchèque

Date de début de la manifestation scientifique :

2003

Date de publication :

2003

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL