Analysis of hot carrier aging degradation ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Analysis of hot carrier aging degradation in GaN MESFETs
Author(s) :
Pierobon, R. [Auteur]
Rampazzo, F. [Auteur]
Pacetta, D. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Théron, Didier [Auteur]
Boudart, B. [Auteur]
Meneghesso, G. [Auteur]
Zanoni, E. [Auteur]
Rampazzo, F. [Auteur]
Pacetta, D. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Théron, Didier [Auteur]
Boudart, B. [Auteur]
Meneghesso, G. [Auteur]
Zanoni, E. [Auteur]
Start date of the conference :
2004
Book title :
Proceedings of the Fifth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems, ASDAM 2004
Publisher :
IEEE, Piscataway, NJ, USA
Publication date :
2004
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :