Analysis of hot carrier aging degradation ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Analysis of hot carrier aging degradation in GaN MESFETs
Auteur(s) :
Pierobon, R. [Auteur]
Rampazzo, F. [Auteur]
Pacetta, D. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Théron, Didier [Auteur]
Boudart, B. [Auteur]
Meneghesso, G. [Auteur]
Zanoni, E. [Auteur]
Rampazzo, F. [Auteur]
Pacetta, D. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Théron, Didier [Auteur]
Boudart, B. [Auteur]
Meneghesso, G. [Auteur]
Zanoni, E. [Auteur]
Date de début de la manifestation scientifique :
2004
Titre de l’ouvrage :
Proceedings of the Fifth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems, ASDAM 2004
Éditeur :
IEEE, Piscataway, NJ, USA
Date de publication :
2004
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :